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基于PXI的微波继电器测量

测试问题

测试目的是将测试Radiall微波开关性能的20多个测试平台的测试性能提升一倍。每一个微波开关在交付给客户之前,需要测试间内不同的气候条件下对接触特性进行全方位测试。升级后的测试平台需提升其容量、测试速率和灵活性。开关需要在测试间内不同气候条件下长时间运行,同时经历热循环。每个测试平台需要在同时运行的测试过程中管理各种不同的微波开关(图1)。

Test System

参与公司

Radiall,法国一家微波继电器制造商以及该系统的最终用户,对供应商提供的各种解决方案进行评估。

Mesulog,系统集成商,Pickering Interfaces与其合作提出一个完整的PXI解决方案,可以与其他竞争方案进行评估和比较。

测试方法

每个测试平台建议基于一个PXI解决方案,包括一个条形扫码器来识别被测器件,一个PXI DMM实现接触电阻的四端阻抗测量,Pickering Interfaces多路复用器到DMM间的连接来测量DUT的接触特性,软件可基于Labview®和测试台的软件环境®。

最重要的挑战性的是选择合适的开关系统来支持DMM对测试间的微波设备进行四端阻抗测量。需要四端口测量来支持DMM测量阻抗,独立于线缆和开关间的阻抗。DMM必须处理多个设备,每个设备连接多个,所以开关系统必须是灵活多变的。它还需要长的使用寿命,因为测试平台需要多年长时间连续运行。

解决开关问题

对于可用的开关系统—线缆关键标准的速度、可靠性和精确度,没有优先选择优势。Mesulog评估了一些可用的解决方案,并且折中了这些方案。最后,Pickering Interfaces和Mesulog共同合作定义了一个基于64×4FET的多路复用器的新的解决方案。FET的使用实质上提供了无限制使用寿命,而四端口测量的使用补偿FET开关中任何路径固有的阻抗。

有效的评估和成功的合作

使用市场上标准可用的产品在软件和硬件方面使得集成商提供灵活和人性化的微波继电器测试器。通过FET开关的PXI构架与其他继电器技术相比较,具有无与伦比的速度执行,同时具有无限的生命周期。

由于产品的可用性、架构速度、小的引脚和有效的成本解决方案,则PXI是一个合理的选择。

底线是二十个测试台正在向这个架构转移。

此外,这个相同的架构将被用作Radiall航天部门另一种类型的工作台的核心。

Mesulog和Pickering Interfaces之间的合作,与Radiall密切合作,确保在测试台上成功的执行PXI。PXI的使用使得集成更容易和快速,对于最终用户是一个很好的经验。

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译者:广州虹科电子科技有限公司  张璐

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